核心提示:一种存储器件的制作方法,包括:在栅氧层上形成控制栅多晶硅层,栅氧层形成于衬底上,衬底的有源区的周侧形成有环绕的STI结构;在控制栅多晶硅层上形成ONO;在所述ONO上形成浮栅多晶硅层;通过光刻工艺进行...
一种存储器件的制作方法,包括:在栅氧层上形成控制栅多晶硅层,栅氧层形成于衬底上,衬底的有源区的周侧形成有环绕的STI结构;在控制栅多晶硅层上形成ONO;在所述ONO上形成浮栅多晶硅层;通过光刻工艺进行刻蚀,去除目标区域的控制栅多晶硅层、ONO和浮栅多晶硅层,剩余的控制栅多晶硅层形成存储器件的控制栅,剩余的浮栅多晶硅层形成存储器件的浮栅;进行各向同性的回刻蚀,去除STI结构侧面的氮氧化硅残留。本申请在进行ONO刻蚀后,通过回刻蚀去除STI结构侧面的氮氧化硅残留,降低了器件的漏电现象,提高了了器件的可靠性。