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集成电路制造方法技术专利2

时间:2020/5/14 15:39:08 点击:

  核心提示:1 存储器大规模集成电路特定部分的搜索方法和装置(日本-27页)2 信号转换装置及其在大规模集成电路上的应用(日本-22页)3 大规模集成电路的配置方法(日本-17页)4 大规模集成电路(LSI),控...
 1  存储器大规模集成电路特定部分的搜索方法和装置(日本-27页)
 2 信号转换装置及其在大规模集成电路上的应用(日本-22页) 
 3  大规模集成电路的配置方法(日本-17页)
 4 大规模集成电路(LSI),控制包括LSI的电子器件的电路和控制该电路的方... (日本-2 
 5 混合集成电路装置的制造方法(日本-36页) 
 6 电平移位电路和半导体集成电路(日本-44页) 
 7 半导体集成电路系统(日本-23页) 
 8 半导体集成电路(日本-19页) 
 9 半导体集成电路的测试装置及半导体集成电路的测试方法(日本-21页) 
 10 静电保护电路以及使用了该电路的半导体集成电路(日本-42页) 
 11 集成电路测试装置(日本-19页) 
 12 半导体集成电路器件的制造方法及掩模制作方法(日本-38页) 
 13 复合集成电路的设计验证方法(日本-26页) 
 14 集成电路装置(日本-17页) 
 15 半导体集成电路器件的制造方法及其测试设备(日本-36页) 
 16 集成电路芯片元部件进给装置(日本-38页) 
 17 半导体集成电路器件的制造方法(日本-42页) 
 18 半导体集成电路以及半导体集成电路布线布局(日本-16页) 
 19 混合集成电路装置(日本-44页) 
 20 同步延迟电路以及半导体集成电路装置(日本-29页) 
 21 用于非接触型集成电路卡的半导体集成电路装置(日本-32页) 
 22 非辐射介质线及其集成电路(日本-26页) 
 23 半导体集成电路及其检查方法、液晶装置及电子装置(日本-34页) 
 24 显示用驱动集成电路及使用该集成电路的电子装置(日本-24页) 
 25 半导体集成电路的故障分析装置及其方法(日本-14页) 
 26 半导体集成电路器件及其设计方法(日本-19页) 
 27 改善了低电压工作特性的半导体集成电路装置(日本-17页) 
 28 集成电路内装振荡电路(日本-24页) 
 29 具有三态逻辑门电路的半导体集成电路(日本-23页) 
 30 搭载有DRAM的半导体集成电路(日本-21页) 
 31 能在外部监视内部电压的半导体集成电路装置(日本-39页) 
 32 集成电路组件和半导体元件(日本-36页) 
 33 减少不需要电流的半导体集成电路(日本-18页) 
 34 具有相位调节功能的半导体集成电路及使用其的系统(日本-17页) 
 35 内装输出信号定时调节器的半导体集成电路器件(日本-21页) 
 36 半导体集成电路的监视电路(日本-13页) 
 37 具有内部测试电路的半导体集成电路器件(日本-16页) 
 38 具有钳位电路的半导体集成电路装置(日本-24页) 
 39 半导体集成电路的数据传送电路(日本-17页) 
 40 对集成电路产生测试码模式的方法(日本-37页) 
 41 三重阱结构的半导体集成电路的制造方法(日本-36页) 
 42 半导体集成电路器件和排列功能单元的方法(日本-28页) 
 43 半导体集成电路中信号配线启动速度的改进(日本-32页) 
 44 记录头集成电路及记录装置(日本-32页) 
 45 半导体集成电路的逻辑合成方法(日本-46页) 
 46 距离测定用集成电路(日本-32页) 
 47 具有不辐射介质波导的电子部件和使用它的集成电路(日本-24页) 
 48 互补金属氧化物半导体集成电路(日本-17页) 
 49 确定节点间线路的方法和用其设计的半导体集成电路器件(日本-23页) 
 50 在多电平电源电压下稳定动作的半导体集成电路装置(日本-38页) 
 51 具有确切的自诊断功能的半导体集成电路装置(日本-31页) 
 52 制造大规模集成电路的处理设备(日本-18页) 
 53 集成电路及该集成电路的测试方法(德国-8页) 
 54 集成电路装置(德国-27页) 
 55 具有至少一个电容的集成电路及其制造方法(德国-23页) 
 56 由节拍信号产生具有相位移的输出节拍的集成电路(德国-15页) 
 57 有浅沟槽隔离的集成电路器件(德国-8页) 
 58 减少集成电路制造过程中侧壁堆积的金属蚀刻方法(德国-19页) 
 59 集成电路制造方法及结构(德国-19页) 
 60 用BPSG回流去除CMP划痕的方法和用其制成的集成电路芯片(德国-9页) 
 61 集成电路及其制造方法(德国-10页) 
 62 减少了衬底缺陷的CMOS集成电路(德国-11页) 
 63 集成电路器件中的互连(德国-7页) 
 64 在集成电路检测中识别接触错误的装置(德国-9页) 
 65 带改进的片外驱动器的集成电路(德国-17页) 
 66 带有至少两个彼此绝缘的元件的集成电路装置及其生产方法(德国-16页) 
 67 集成电路卡模块及其生产工艺和设备(德国-10页) 
 68 CMOS技术中集成电路极性颠倒的保护(德国-9页) 
 69 在注塑模塑封装中用于集成电路装配的引线框架(德国-8页) 
 70 集成电路中模拟电路部分的调整方法(德国-14页) 
 71 超大规模集成电路的制造方法(中国-13页) 
 72 万门级互补场效应晶体管集成电路的制造方法(中国-15页) 
 73 采用闪速存储器作内存的智能卡集成电路(中国-8页) 
 74 一种阵列式光敏开关集成电路(中国-6页) 
 75 带有稳压管的双极型集成电路及其制造方法(中国-8页) 
 76 双层多晶CMOS数模混合集成电路及其制造方法(中国-8页) 
 77 数字控制集成电路系统(中国-43页) 
 78 利用八位数据传输操作的集成电路卡芯片及其验证方法(中国-24页) 
 79 一种可靠性提高的E#+[2]PROM集成电路(中国-10页) 
 80 球点阵列集成电路封装的方法(中国台湾-9页) 
 81 可控制多轴转动位置的集成电路(中国台湾-17页) 
 82 分散式输出入控制集成电路(中国台湾-15页) 
 83 电荷耦合影像感应元件的混合集成电路构装方法(中国台湾-13页) 
 84 具有自毁功能的集成电路(中国台湾-10页) 
 85 封装集成电路基板及其制造方法(中国台湾-8页) 
 86 一种集成电路的封装结构(中国台湾-12页) 
 87 多晶片集成电路封装结构(中国台湾-14页) 
 88 薄型球栅阵列式集成电路封装的制作方法(中国台湾-26页) 
 89 集成电路封装单元分割方法(中国台湾-21页) 
 90 集成电路制造工艺中元件误差的修正系统(中国台湾-17页) 
 91 嵌入式集成电路组件(中国台湾-22页) 
 92 集成电路封装的堆叠模组(中国台湾-9页) 
 93 使集成电路运作模式具有不确定性的控制方法(中国台湾-16页) 
 94 集成电路模块的制造方法(中国台湾-13页) 
 95 集成电路的封装体基座构造及制造方法(中国台湾-10页)

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