核心提示:一种半导体器件和半导体器件制作方法,器件包括:带有两个凹槽的第一外延片、第一介质层,第一外延片中包括二维电子气结构层;第一介质层淀积在两个凹槽内,其上表面低于二维电子气结构层的下表面;两个凹槽内的第一...
一种半导体器件和半导体器件制作方法,器件包括:带有两个凹槽的第一外延片、第一介质层,第一外延片中包括二维电子气结构层;第一介质层淀积在两个凹槽内,其上表面低于二维电子气结构层的下表面;两个凹槽内的第一介质层上淀积有第一金属层,形成源极和漏极;栅极由第二金属层在第一外延片上表面的指定位置淀积形成。该半导体器件在漏极、源极分别对应的金属层下方填充有低介电常数的第一介质层,且第一介质层的深度低于二维电子气结构层,该结构形式可以降低栅极、源极和漏极之间相互耦合产生的寄生电容效应,进而可以提升器件的工作频率,由于不需要改变栅长,可以在控制器件制作成本的同时,保证器件的成品率和可靠性。