核心提示：001 操作半导体存储装置的方法及半导体存储装置002 非易失性存储装置003 具有存储器器件的集成电路及用于测试该集成电路的方法004 调节磁存储单元的写入电流005 栅控二极管存储器单元及其写入方...
001 操作半导体存储装置的方法及半导体存储装置002 非易失性存储装置
003 具有存储器器件的集成电路及用于测试该集成电路的方法
004 调节磁存储单元的写入电流
005 栅控二极管存储器单元及其写入方法
006 采用时钟倍频器对嵌入式存储器进行自动比特故障映射
007 存储器
008 半导体集成电路装置
009 半导体存储装置
010 更新振荡器
011 锁存电路和包括该电路的同步存储器
012 半导体器件
013 激活由行地址启动的字线段的方法和半导体存储器件
014 半导体存储器件
015 延迟电路、强电介质存储装置及电子设备
016 P沟道电可擦可编程只读存储器的编程方法
017 适于在单个存储单元中存储多值的非易失性半导体存储器件
018 用于非挥发性存储器电路的电荷泵
019 用于读取存储单元的读取电路
020 降低聚合物存储器中写干扰的影响
021 读取结构相变存储器的方法
022 电荷注入方法
023 可变延滞时间堆栈快取存储器及提供资料的方法
024 一种EEPROM在板编程方法
025 一种电可擦写存储器编程电路
026 低工作电压驱动的电荷泵电路
027 每单元使用多个状态位以处理写操作期间的电源故障
028 基于串行高级技术结构接口的半导体存储装置
029 存储装置读取相位自动校正方法与相关机制
030 闪存介质中的数据操作方法
031 闪存介质数据写入方法
032 用于存储设备的预测定时校准
033 具有以有机半导体为基础的晶体管及非易失性读/存储器胞元的半导体装置
034 熔丝技术及操作方法
035 提供多个工作电压的半导体器件卡
036 包含交叉点电阻元件的交叉点存储器阵列的寻址电路
037 磁随机存取存储器及其制造方法
038 磁存储器件
039 铁电体随机存取存储器器件和驱动方法
040 存储电路、半导体装置及电子设备
041 存储电路、半导体装置、电子设备以及驱动方法
042 铁电存储装置、电子设备、以及驱动方法
043 印记抑制电路方案
044 存储电路、半导体装置以及电子设备
045 具有外部数据加载信号的存储器件及其串并数据预取方法
046 熔丝电路
047 半导体存储装置
048 半导体存储装置
049 半导体存储装置
050 用于高速数据存取的半导体存储装置
051 独立式刷新记忆体电容的方法及装置
052 根据温度变化而具有最佳刷新周期的半导体存储装置及其方法
053 半导体存储器件的激活电路
054 半导体存储器装置的加电电路
055 半导体存储装置中的加电电路
056 半导体存储装置内的内电压产生电路
057 半导体存储器件及其数据读取和写入方法
058 用于相变存储阵列的置位编程方法和写入驱动器电路
059 具有加强编程和擦除功能的与非闪速存储器及其制造方法
060 具有可伸缩二晶体管存储单元的非易失性半导体存储设备
061 半导体读出电路
062 使用时钟信号的数据选通电路
063 具有高级测试模式的半导体存储装置
064 磁性随机存取存储器阵列窄导体设计
065 在半导体存储器件中提高刷新周期
066 用于双单元存储元件的有效读取和编程的方法和系统
067 用于防止错误的数据存储的产品和方法
068 非易失存储器测试结构和方法
069 叠层型半导体存储装置
070 铁电存储设备
071 半导体记忆电路及其待命模式操作方法
072 半导体器件
073 非易失性半导体存储器
074 用于闪速存储器的数据恢复设备和方法
075 移位寄存器及用其的显示驱动装置、显示装置、电子设备
076 用于自适应调节数据接收器的方法和装置
077 存取单端口存储设备的方法,存储器存取设备,集成电路设备和集成电路设备的使...
078 具有非矩形存储条的存储芯片结构以及用于布置存储条的方法
079 MRAM制程中穿隧接合帽盖层、穿隧接合硬罩幕及穿隧接合堆栈种子层之材料组...
080 使用可变电阻存储元件的存储装置及用于该装置的参考电阻值确定方法
081 用于高密度MRAM应用的合成铁氧磁材料传感层
082 多数据状态存储单元
083 可编程导体随机存取存储器以及用于检测它的方法
084 半导体存储装置
085 数据存储设备及其刷新方法
086 动态参考编程的算法
087 用于动态页编程的更新设计
088 使用双动态参考的用于多位闪存读取的系统和方法
089 存储电路及其生成方法
090 具有无源存储元件的存储器中改善读取的方法
091 随机存取存储器初始化
092 改变移动存储设备功能或状态的方法
093 存储电路、半导体装置、电子设备以及驱动方法
094 具低峰值电流的更新控制器
095 用于降低地址存取时间的半导体存储设备
096 半导体集成电路
097 调节半导体存储器装置中转换速率的装置与方法
098 非易失性半导体存储器件
099 多级闪存的部分页编程
100 从一个集成电路的物理参数中提取一个二进制代码
101 具有分布式行地址计数器的并发刷新模式的嵌入式DRAM
102 电源开启重置的解除装置及方法
103 闪存的程序化验证方法
104 半导体装置
105 验证测试用ROM的方法
106 用于拟静态存储装置的异步接口电路和方法
107 铁电内存中增加读取信号
108 磁阻存储器件和组件以及存储和检索信息的方法
109 数据存储电路及其中的数据写入方法,以及数据存储设备
110 复合存储电路及具有该电路的半导体器件
111 制造参考层之方法及备有此型参考层之MRAM存储单元
112 包括多个堆叠的矩阵可寻址存储器件的立体数据存储装置
113 可寻址内容之记忆单元
114 半导体存储装置
115 磁存储器件及其制造方法
116 磁阻器件
117 电流阈值检测器
118 半导体存储器件
119 存储器
120 具防写功能的微型存储装置
121 移位寄存器和MOS型固态摄像传感器
122 一种嵌入式存储器的测试装置
123 半导体记忆装置及操作半导体记忆装置方法
124 热选择交叉点磁性随机存取内存胞元布局
125 链接记忆架构中冗余
126 内存可挠冗余
127 用地址信号设置运行模式的方法和存储系统
128 形成不含接触孔的纳米尺寸的磁性隧道结单元的方法
129 冗余减轻电路
130 在动态存储器中实现查表控制器的方法
131 半导体器件
132 存储卡和半导体器件
133 非易失性半导体存储器件
134 半导体存储器件和半导体存储器件的测试方法
135 调整读出电压的存储器存储装置
136 于镶嵌结构中制造磁性随机存取内存补偿单元的方法
137 具降低粗糙度之电阻性存储元件
138 利用映像存储器降低备用功率
139 串行读出多级单元阵列输出
140 具有检查和纠错的内容可寻址存储器(CAM)
141 通过使用关于所存储数据的质量的信息来增加错误校正码的效率和操作多电平存储...
142 多功能数据存储装置及方法
143 包括热量产生层的磁随机存取存储器及相关方法
144 在半导体存储器装置中的片内终结上的模式转移电路
145 半导体存储装置及其刷新控制方法
146 偏置电压施加电路和半导体存储装置
147 非挥发性半导体存储器件
148 存储电路的参考电压的产生
149 具有2T存储器单元的存储器阵列
150 用于减小电子器件内漏电流影响的器件
151 使用预先擦除步骤擦除闪存的方法
152 数据存储装置
153 具有用于不同信号频率的不同端接器单元的存储装置
154 温度受控、热辅助磁性存储器件
155 半导体存储器
156 半导体器件
157 非易失半导体存储设备以及在其中编程的方法
158 非易失性半导体存储器件
159 单端电流检测放大器
160 用于智能卡的恢复方法
161 非易失性存储电路及其驱动方法和使用该存储电路的半导体装置
162 具改善可靠性之铁电记忆集成电路
163 电子控制装置
164 带有在I/O监视内部计时控制信号的测试模式的半导体存储器器件
165 高阶区域效能的资料线路结构
166 半导体器件
167 半导体集成电路
168 动态型半导体存储装置
169 静态随机存取存储器的输出装置
170 半导体存储装置
171 多级闪存设备与编程方法
172 存储单元奇偶连续校验的奇偶校验电路
173 减少软错误率的负微分电阻元件和存储器
174 用于流水线存储器的有效读取/写入方法
175 用于在铁电存储器件中制造铁电存储单元的方法,以及铁电存储器件
176 改进的存储器集成电路
177 半导体存储器
178 存储器中软故障检测的方法和装置
179 集成电路
180 相变存储器件和写相变存储器件的方法
181 半导体设备
182 基于晶体管栅极氧化物击穿的组合现场可编程门阵列
183 半导体存储装置中的延迟锁定回路及其时钟锁定方法
184 存储设备
185 采样保持电路
186 用于预烧测试的存储器装置以及方法
187 平衡负载存储器和操作方法
188 用于延迟电路的方法和装置
189 半导体存储装置中字线的锁存方法
190 写入切换存储器的电路和方法
191 铁电存储器
192 含有铝盐化合物和不对称丙烯酸酯化合物的全息数据存储介质
193 可擦除且可编程非易失性单元
194 在非易失性存储器中写入的方法以及实现这种方法的系统
195 顺序熔丝锁存器操作移位寄存器
196 用于具有动态升压字线的寄存器堆中的性能提高技术
197 以小读取电流侦测电子式熔丝状态的小型电路
198 产生写入门控时钟信号的方法和装置
199 具语音提醒的录音笔及计时语音提醒的方法
200 半导体集成电路装置
201 消除半导体存储器设备中的符号间干扰的装置及其方法
202 用于产生内部时钟信号的装置
203 动态RAM存储方法
204 半导体存储装置
205 测试半导体存储单元和存储阵列的可编程性的方法和电路
206 移位缓存器和使用该缓存器的显示板及改善漏电流的方法
207 带有存储器的半导体器件和存储器测试的方法
208 半导体存储器件及其初始化方法
209 编程相变材料存储器
210 半导体存储器
211 内存组件
212 包含磁致电阻元件的半导体存储装置及其制造方法
213 可程序金属氧化半导体存储电路及其可程序方法
214 半导体存储器设备与定时控制方法
