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| 集成电路测试装置 |
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| 集成电路测试装置 |
| 简介： |
在一个ＩＣ测试装置中，设置有第一模拟比较器（４ａ）和第二模拟比较器（４ｂ），它们用于比较来自受测试的ＩＣ的一个Ｉ／Ｏ插脚和一个输出专用插脚的响应波形；和一个选择器（２５），它用于选择来自两个模拟比较器的输出中的任何一个。通过用选择器在该两个模拟比较器的输出之间进行切换，来用已有Ｉ／Ｏ公用系统进行对受测试的ＩＣ的Ｉ／Ｏ插脚的测量，以及用已有Ｉ／Ｏ分离系统进行对该ＩＣ的输入专用插脚和输出专用插脚的测量。 |
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| 全文：详细说明书附图共15页 | | |
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