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半导体集成电路的芯片布局和用于对其检验的方法 【打印】 【收藏本页】 半导体集成电路的芯片布局和用于对其检验的方法 简介： 一种半导体集成电路的芯片布局，包括多个器件图形，设计成能形成具有单一电源的半导体衬底；以及金属布线图形，被形成在该半导体衬底上。把该金属布线图形分成为多个装置，以提供多个电源通路。 全文：详细说明书附图共18页